

Производитель | Китай, Hanon Instruments |
Выделяемый спектральный интервал | 2 нм |
Дисплей | ЖКИ 320×240 пиксел |
Габариты | 625 × 430 × 210 мм |
Масса | 28 кг |
Спектральный диапазон | 190 – 1000 нм |
Погрешность измерения коэффициента пропускания | ±0,2 %Т |
Ширина щели | 0.5 / 1 / 2 / 4 / 5 нм |
Установка длины волны | Автоматическая |
Интерфейсы | USB для подключения ПЭВМ, параллельный порт для принтера |
Электропитание | ~220 В ±10%, 50 Гц |
Кюветодержатель | На 1 кювету размером 12,5×12,5×42,5 мм (еврокювета), длина оптического пути 1–10 мм |
Оптическая схема | Истинная двухлучевая |
Источники света | Дейтериевая лампа / Вольфрам-галогеновая лампа |
Фотодетектор | Кремниевый фотодиод |
Погрешность установки длины волны | ±0,1 нм для 656,1 нм линии дейтерия; ±0,3 нм для прочих |
Повторяемость установки длины волны | ≤0,1 нм |
Повторяемость измерения коэффициента пропускания | ≤0,15% |
Фотометрическая стабильность | ±0,0004 е.о.п./ч при 500 нм |
Диапазон измерения | -0,3–3 е.о.п., 0–200%Т, 0–9999 С |
Амплитуда базовой линии по спектральному диапазону | ±0,001 ед. |
Скорости сканирования спектра | 450 / 900 / 1150 нм/мин |
Двухлучевой спектрофотометр УФ/видимой области спектра, предназначенный для выполнения различных аналитических измерений с поддержкой широкого диапазона вспомогательных аксессуаров.
Устройство использует высокоскоростной 24-битный аналого-цифровой преобразователь. Подвесная конструкция оптической системы в сочетании с усиленной и толстой нижней платформой обеспечивают устойчивость к вибрациям и деформациям.
Встроенное программное обеспечение поддерживает следующие режимы измерения: