Спектрофотометр i2 Hanon Instruments

Дисплей: ЖКИ 128 × 64 пиксел
Масса: 15 кг
Спектральный диапазон: 320 – 1000 нм
SBW: 2 нм
Погрешность измерения коэффициента пропускания: ±0.3 %Т

Нет поставщиков

Характеристики

Производитель	Китай, Hanon Instruments
Дисплей	ЖКИ 128 × 64 пиксел
Масса	15 кг
Спектральный диапазон	320 – 1000 нм
Спектральная ширина щели	2 нм
Погрешность измерения коэффициента пропускания	±0.3 %Т
Установка длины волны	Автоматическая
Интерфейсы	USB для подключения ПЭВМ, параллельный порт для принтера
Электропитание	~220 В ±10%, 50 Гц
Оптическая схема	Однолучевая с расщеплением луча (split-beam)
Источники света	Вольфрам-галогеновая лампа
Фотодетектор	Кремниевый фотодиод
Погрешность установки длины волны	±0.5 нм
Повторяемость установки длины волны	≤0.3 нм
Повторяемость измерения коэффициента пропускания	≤0.15%
Фотометрическая стабильность	±0.0001 е.о.п./ч при 500 нм
Неровность базовой линии	±0.0001 Б/ч
Фотометрический шум	±0.0005 ед.
Диапазон измерения	0–3 е.о.п., 0–200%Т
Диапазон значений концентрации	0 – 9999
Применимые кюветы	Размер 12.5 × 12.5 × 42.5 мм (еврокюветы), длина оптического пути 1–10 мм
Ширина	460 мм
Глубина	380 мм
Высота	180 мм

Назначение

Спектрофотометр видимой области спектра предназначен для несложных рутинных аналитических измерений в лабораторных условиях. Прибор оснащён однолучевой оптической схемой с расщеплением луча (split-beam) и кремниевым фотодиодом, обеспечивая надёжные результаты в диапазоне 320–1000 нм.

Функциональные возможности

Прибор включает встроенный вычислительный функционал:

Режимы измерения: оптическая плотность, пропускание, концентрация (с пересчётом по известному фактору)
Внутренняя память: до 200 результатов измерения и 200 градуировочных кривых
Поддержка многоточечной градуировки
Автоматическая установка длины волны

При необходимости дополнительно приобретается программное обеспечение для расширенного функционала: многоволновые измерения, кинетические измерения, сканирование спектров, архивирование результатов на ПЭВМ.