Спектрофотометр i3 Hanon Instruments

Габариты: 460 × 380 × 160 мм
Масса: 13 кг
Спектральный диапазон: 190 – 1000 нм
SBW: 2 нм
Погрешность измерения коэффициента пропускания: ±0,5 %Т

Нет поставщиков

Характеристики

Производитель	Китай, Hanon Instruments
Габариты	460 × 380 × 160 мм
Масса	13 кг
Спектральный диапазон	190 – 1000 нм
Спектральная ширина щели	2 нм
Погрешность измерения коэффициента пропускания	±0,5 %Т
Установка длины волны	Автоматическая
Интерфейсы	USB для подключения ПЭВМ / Параллельный порт для принтера
Электропитание	~220 В ±10%, 50 Гц
Оптическая схема	Однолучевая с расщеплением луча (split-beam)
Источники света	Дейтериевая и вольфрам-галогеновая лампы
Фотодетектор	Кремниевый фотодиод
Повторяемость установки длины волны	≤0,3 нм
Повторяемость измерения коэффициента пропускания	≤0,2%
Диапазон измерения	0–3 единиц оптической плотности; 0–200%Т; 0–9999 концентрация
Применимые кюветы	Размер 12,5×12,5×42,5 мм (еврокюветы), длина оптического пути 1–10 мм
Фотометрическая стабильность	±0,0001 единиц оптической плотности/ч при 500 нм
Погрешность установки длины волны	±1 нм
Дисплей	ЖКИ 128×64 пиксел
Режимы измерения	Пропускание / Оптическая плотность / Концентрация (с пересчётом по известному фактору)
Внутренняя память	До 200 результатов измерения и 200 градуировочных кривых
Поддержка градуировки	Многоточечная
Функциональность программного обеспечения	Измерения на нескольких длинах волн / Все стандартные функции спектрофотометра / Сканирование спектров / Хранение результатов в памяти ПЭВМ и вывод на принтер / Определение концентрации ДНК/белка по отношению оптической плотности / Кинетические измерения
Программное обеспечение	Опционально

Назначение и применение

Спектрофотометр УФ и видимой области спектров с высокоскоростным 24-битным аналого-цифровым преобразователем. Подвесная конструкция оптической системы и усиленная толстая нижняя плита обеспечивают защиту от вибраций и деформаций.

Функциональные возможности

Стандартное программное обеспечение поддерживает фотометрические и количественные анализы, обработку данных, построение калибровочных кривых и соответствующие измерения. Метод коэффициентов позволяет анализировать образцы после ввода коэффициентов калибровочного уравнения. Устройство оснащено встроенной памятью для хранения до 200 групп данных и 200 стандартных кривых.